发光二极管检测报告第三方办理流程项目标准详解

2023-11-22 107浏览
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发光二*管检测在哪做?百检网第三方检测机构可提供发光二*管检测服务,工程师一对一服务,根据发光二*管检测需求制定方案,安排实验室寄样检测,常规检测项目在3-15个工作日内完成并出具发光二*管检测报告,欢迎咨询。

检测样品:纺织品化妆品食品农产品绝缘工具五金件等

报告资质:CNAS/CMA/CAL

报告周期:常规3-15个工作日,特殊样品检测项目除外。

检测费用:根据检测项目收费,详情请咨询百检网。

发光二*管检测项目:

光通维持率,LED平均光强测量,光通量测量(积分光度法),光电及色度特性,尺寸,*限值(***大额定值体系),标志,K系数,主波长和颜色刺激纯度,人体模式静电放电敏感性,光通量和光通量效率,半强度角和角偏差(θ1/2),峰值发射波长(λp)光谱带宽和光谱功率分布,平均LED强度,开关时间,总电容,机器模式静电放电敏感性,机械资料(安装和焊接条件),热阻,电压参数,电流参数,白光器件的显色指数,白光器件色温或相关色温,结温,色品坐标,色差,辐射功率和辐射效率,高发光效率器件的热阻,反向电压,反向电流,正向电压,X射线照相,主波长,光谱范围,光通量,内部检查,反向漏电流,发光强度,发光指向角,外观检查,尺寸测量,峰值波长,扫描电子显微技术和电子束显微分析,探针测试,横截面,正向导通电压,光谱辐射带宽Δλ,光通量维持寿命,半强度角θ1/2,反向电流IR,发光强度Iv(平均LED强度),峰值发射波长λP,总光通量,显色指数(Ra),正向电压VF,相关色温,角偏差,辐射效率,辐射通量,颜色刺激纯度,发光强度Iv (平均LED强度),峰值 发射 波长 λp,LED器件平均发光强度,色度学参数,光谱分布及其特性参数,半强度角,光通量效率,光谱功率分布

百检检测流程:

1电话沟通确认需求;

2推荐方案确认报价;

3邮寄样品安排检测;

4进度跟踪结果反馈;

5出具报告售后服务;

6如需加急优先处理;

发光二*管检测标准:

1IES LM-80-08 LED光源光通维持率的测量

2SJ/T 11394-2009 半导体发光二*管测试方法 5.6.2

3GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 GB/T15651-1995(IEC 60747-5:1997)

4GB/T 18904.3-2002 半导体器件第12-3部分:光电子器件显示用发光二*管空白详细规范 8

5GB/T15651-1995(IEC 60747-5:1997) 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 Ⅲ-7.3

6IEC 60747-5-3-2009 半导体分立器件和集成电路 第5-7部分:光电子器 3.3

7GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 5003-3.1.43.2.7

8GB/T 12565-1990 《半导体器件 光电子器件分规范》 附录D

9GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

10 JESD22-B101C-2015 外观检查

11GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法5003 3.4 e)

12JB/T 10875-2008 发光二*管光学性能测试方法

13SJ/T 11393-2009 《半导体光电子器件 功率发光二*管空白详细规范》 SJ/T 11393-2009

14SJ/T 11400-2009 《半导体光电子器件 小功率发光二*管空白详细规范》 5

15GB/T 12565-1990 《半导体器件 光电子器件分规范》 GB/T 12565-1990

16QB/T 4057-2010 普通照明用发光二*管 性能要求

17GB/T 18904.3-2002 半导体器件第12-3部分:光电子器件显示用发光二*管空白详细规范 GB/T 18904.3-2002

18GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 3.3

19GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 1003-2.3

20IEC 60747-3-2013 半导体器件分立器件 -第3部分:分立器件:信号,开关和整流二*管 6.2.2

一份检测报告有什么用?

产品检测报告主要反映了产品各项指标是否达到标准中的合格要求,能够为企业产品研发投标电商平台上架商超入驻学校科研提供客观的参考。

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