识别卡.检测-百检网

首页
IC产品
识别卡.检测

如何办理?检测项目及标准有哪些?百检检测可为您提供材料等相关检测服务。今天百检检测为您解答相关内容的检测项目与标准有哪些

检测项目：

卡的尺寸,翘曲度,X射线,剥离强度,动态弯曲应力,动态扭曲应力,卡的材料,卡的构造,卡的特性,卡翘曲,可燃性,在温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲,字符凸印的起伏高度,弯曲韧性,抗热度,物理特性,粘连和并块,紫外线,耐化学性,触点的分配,触点的尺寸,触点的数量和位置,静磁场,部分参数,个人账号,卡号长度及结构,发卡机构识别卡,发卡行标识代码,应用主账号的格式,数据元,校验位,校验数字,物理特性——全卡翘曲,物理特性——剥离强度,物理特性——动态弯曲,物理特性——动态扭曲,物理特性——卡的厚度,物理特性——卡的尺寸,物理特性——卡边缘,物理特性——字符凸印的起伏高度,物理特性——工作温度,物理特性——弯曲韧性,物理特性——抗热度,物理特性——温湿条件下的尺寸稳定性和翘曲稳定性,物理特性——粘结或并块,物理特性——紫外光,物理特性——耐化学性,物理特性——表面畸变,物理特性——触点机械强度,物理特性——触点的尺寸和位置,物理特性——触点的电阻,物理特性——触点表面轮廓度,物理特性——阻光度,物理特性——静电,物理特性——静磁场,磁道1结构和数据内容,磁道2结构和数据内容,磁道3结构和数据内容,自定义位,卡尺寸,温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲,耐温湿度,光,抗热性,(触点的)电阻要求,A类操作的选择要求,CLK触点要求,IC卡字符等待时间(CWT)特性要求,IC卡对协议差错的反应要求,IC卡对接口设备超过字符等待时间(CWT)的反应要求,IC卡的块时序要求,ID-1型卡的*多字符数第三磁道,IFD放弃要求,IFD逻辑操作ICC复位(冷复位)要求,IFD逻辑操作ICC复位(热复位)要求,IFD逻辑操作T=0协议,IFD逻辑操作T=1协议,IFD对ICC超过字符等待时间(CWT)的反应要求,IFD逻辑操作T=1协议,IFD的块时序要求,IFD逻辑操作T=1协议,IFD的字符等待时间(CWT)特性要求,IFD逻辑操作T=1协议,IFSC协商要求,IFD逻辑操作T=1协议,块保护时间(BGT)要求,IFD逻辑操作T=1协议,由IFD传送差错的恢复要求,IFD逻辑操作T=1协议,通过ICC终止要求,IFD逻辑操作T=1协议,IFD逻辑操作复位应答(ATR),IFD逻辑操作符合T=0协议IO发送时序要求,IFD逻辑操作符合T=0协议IO字符重发要求,IFD逻辑操作符合T=0协议的IO接收时序和错误信号要求,IFD逻辑操作符合T=1协议,IO发送时序要求,IFD逻辑操作符合T=1协议的IO接收时序要求,IFSD协商要求,IO触点要求,RST触点要求,VCC触点要求,VPP触点要求,全卡翘曲要求,冷复位和热复位应答要求,卡抗热度要求,卡的光照要求,卡的剥离强度要求,卡的尺寸要求,卡的弯曲韧性要求,卡的有毒性要求,卡的材料要求,卡的构造要求,卡的粘连和并块要求,卡的翘曲,卡的耐久性要求,卡的阻光度要求,卡表面畸形要求,块保护时间(BGT)要求,奇偶校验,工作温度要求,带触点集成电路卡电气特性CLK触点,带触点集成电路卡电气特性IO触点,带触点集成电路卡电气特性RST触点,带触点集成电路卡电气特性VCC触点,带触点集成电路卡电气特性VPP触点,带触点集成电路卡触点的尺寸和位置,带触点集成电路卡触点的表面电阻,带触点集成电路卡触点的表面轮廓,带触点集成电路卡逻辑操作T=1协议,带触点集成电路卡逻辑操作复位应答(ATR),带触点集成电路卡静电,带触点集成电路逻辑操作卡T=0协议,弯曲性质要求,扭曲性质要求,接口设备CLK触点要求,接口设备IO触点要求,接口设备RST触点要求,接口设备VCC触点要求,接口设备VPP触点要求,接口设备物理和电气特性CLK触点,接口设备物理和电气特性IO触点,接口设备物理和电气特性RST触点,接口设备物理和电气特性VCC触点,接口设备物理和电气特性VPP触点,接口设备物理和电气特性触点停活,接口设备物理和电气特性触点激活,接口设备触点停活要求

检测标准：

1、GB/T16649.2-2006,ISO/IEC7816-2:1999识别卡带触点的集成电路卡第2部分:触点的尺寸和位置5

2、GB/T17554.3-2006 ISOIEC10373-3:2001识别卡测试方法第3部分：带触点的集成电路卡及相关接口设备9.2

3、GB/T16649.1-2006识别卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性4

4、GB/T16649.3-2006ISOIEC7816-3:1997识别卡带触点的集成电路卡第3部分：电信号和传输协议4.3.2

5、ISO/IEC10373-1:2006/Amd.1:2012识别卡测试方法第1部分：一般特性补丁15.22

6、ISO/IEC7810:2003/Amd.2:2012识别卡物理特性补丁2：阻光度all

7、ISO/IEC10373-1:2006识别卡测试方法第1部分：一般特性5.1

8、ISO/IEC7812-1:2017识别卡发卡方标识第1部分：编号系统4.3

9、GB/T15120.2-2012 ISOIEC7811-2:2001识别卡记录技术第2部分：磁条9.3.3

10、GB/T14916-2006,IEC7810:2003识别卡物理特性5

11、GB/T14916-2006《识别卡物理特性》