GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分:试验25f:眼图和抖动标准部分介绍

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GB/T 5095.2506-2020.Electromechanical components for electronic equipment-Basic testing procedures and measuring methods-Part 25-6:Test 25f: Eye pattern and jitter.

1总则

1.1范围和目的

GB/T 5095的本部分适用于电连接器、电缆组件或IECTC48范围内的互连系统。

GB/T 5095.2506描述了测量时域内眼图响应和抖动的方法。

1.2 术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

1.2.1

眼图 eye pattern

同步伪随机数字数据的示波器显示(信号幅度-时间),表明的累计输出波形的叠加。

1.2.2

抖动 jitter

信号跨越规定的基准电压电平时的*初和*后时间差。

1.2.3

位(比特)周期 bit period

时钟信号的连续相同边缘之间(上升至上升或下降至下降)的时间间隔。此为时钟频率的倒数。

1.2.4

偏斜 skew

两个信号通道之间的传输延迟差。

1.2.5

测量系统上升时间 measurement system rise time

安装就位无样品,并具有滤波(或归一化)作用的装置测量的上升时间。通常,测量的是10%~90%电平的上升时间。

2试验设施

2.1设备

2.1.1 具有时钟输出、能产生规定.上升和下降时间及数据图形信号的高速图形发生器。

2.1.2具有外部时钟输 人、能无限余辉显示的信号分析仪。通常为一具有采样头的数字采样示波器(DSO)。优选具有模板功能的数字采样示波器。

注:要确保不超过示波器输人端口允许的*大输入额定值,防止造成代价高昂的损失并保证可靠的测量。即使信号偏移在示波器的允许*大信号电平范围内也可能产生不稳定的眼图响应。

《GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分:试验25f:眼图和抖动》标准内容仅部分展示，如果您有相关需求请致电百检网咨询。