发光二极管检测标准项目明细一览

发光二*管检测在哪做？百检网第三方检测机构可提供发光二*管检测服务，工程师一对一服务，根据发光二*管检测需求制定方案，安排实验室寄样检测，常规检测项目在3-15个工作日内完成并出具发光二*管检测报告，欢迎咨询。

检测周期：常规3-15个工作日，特殊样品除外，在可行范围内可安排加急。

报告样式：纸质、电子版、中英文均可。

发光二*管检测项目：

光通维持率,LED平均光强测量,光通量测量（积分光度法）,光电及色度特性,尺寸,*限值（***大额定值体系）,标志,K系数,主波长和颜色刺激纯度,人体模式静电放电敏感性,光通量和光通量效率,半强度角和角偏差（θ1/2）,峰值发射波长（λp）、光谱带宽和光谱功率分布,平均LED强度,开关时间,总电容,机器模式静电放电敏感性,机械资料（安装和焊接条件）,热阻,电压参数,电流参数,白光器件的显色指数,白光器件色温或相关色温,结温,色品坐标,色差,辐射功率和辐射效率,高发光效率器件的热阻,反向电压,反向电流,正向电压,X射线照相,主波长,光谱范围,光通量,内部检查,反向漏电流,发光强度,发光指向角,外观检查,尺寸测量,峰值波长,扫描电子显微技术和电子束显微分析,探针测试,横截面,正向导通电压,光谱辐射带宽Δλ,光通量维持寿命,半强度角θ1/2,反向电流IR,发光强度Iv（平均LED强度）,峰值发射波长λP,总光通量,显色指数(Ra),正向电压VF,相关色温,角偏差,辐射效率,辐射通量,颜色刺激纯度,发光强度Iv （平均LED强度）,峰值 发射 波长 λp,LED器件平均发光强度,色度学参数,光谱分布及其特性参数,半强度角,光通量效率,光谱功率分布

百检网样品检测流程：

1、致电131-4818-0553咨询百检客服，确认样品及需求。

2、客服安排工程师对接，根据需求制定检测方案。

3、确认方案、报价后签订合同，安排寄样检测。

4、实验室根据需求，对样品开展检测工作。

5、检测结束，出具样品检测报告。

6、如需加急请提前与工程师或客服进行沟通。

发光二*管检测标准：

1、IES LM-80-08 LED光源光通维持率的测量

2、SJ/T 11394-2009 半导体发光二*管测试方法 5.6.2

3、GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分：光电子器件 GB/T15651-1995(IEC 60747-5:1997)

4、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二*管空白详细规范 8

5、GB/T15651-1995(IEC 60747-5:1997) 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分：光电子器件 Ⅲ-7.3

6、IEC 60747-5-3-2009 半导体分立器件和集成电路 第5-7部分:光电子器 3.3

7、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 5003-3.1.4、3.2.7

8、GB/T 12565-1990 《半导体器件 光电子器件分规范》 附录D

9、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

10、 JESD22-B101C-2015 外观检查

11、GJB 548B－2005 微电子器件试验方法和程序 方法5003 3.4 e)

12、JB/T 10875-2008 发光二*管光学性能测试方法

13、SJ/T 11393-2009 《半导体光电子器件 功率发光二*管空白详细规范》 SJ/T 11393-2009

14、SJ/T 11400-2009 《半导体光电子器件 小功率发光二*管空白详细规范》 5

15、GB/T 12565-1990 《半导体器件 光电子器件分规范》 GB/T 12565-1990

16、QB/T 4057-2010 普通照明用发光二*管 性能要求

17、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二*管空白详细规范 GB/T 18904.3－2002

18、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 3.3

19、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 1003-2.3

20、IEC 60747-3-2013 半导体器件分立器件 -第3部分：分立器件：信号，开关和整流二*管 6.2.2

检测报告用途

1、公司内部产品研发使用。

2、改善产品质量。

3、工业问题诊断。

4、销售使用（商超、电商、投标等）。

5、高校科研论文数据使用。

关于产品检测项目、标准、报告办理流程就介绍到这里。做检测，上百检，百检网期待与您的合作。