绝缘栅双*晶体管检测在哪做?百检网第三方检测机构可提供绝缘栅双*晶体管检测服务,工程师一对一服务,根据绝缘栅双*晶体管检测需求制定方案,安排实验室寄样检测,常规检测项目在3-15个工作日内完成并出具绝缘栅双*晶体管检测报告,欢迎咨询。
检测周期:常规3-15个工作日,特殊样品除外,在可行范围内可安排加急。
报告样式:纸质、电子版、中英文均可。
绝缘栅双*晶体管检测项目:
关断期间的各时间间隔(td(off)、tf、toff、tz)和关断能量Eoff,反向传输电容,开通期间的各时间间隔(td(on)、tr、ton)和开通能量Eon,*大反偏安全工作区,*大短路安全工作区1,*大短路安全工作区2,*大集电*峰值电流,*大集电*电流,栅*内阻,栅*漏电流,栅*电荷,栅*-发射*阈值电压,输入电容,输出电容,间歇工作寿命(负载循环),集电*-发射*击穿电压,集电*截止电流,集电*-发射*电压,集电*-发射*短路时的栅*-发射*电压,集电*-发射*饱和电压,高温栅*偏置,高温阻断(HTRB),关断期间的各时间间隔和关断能量,开通期间的各时间间隔和开通能量,*大短路安全工作区,栅*-发射*阈值电压,集电*-发射*饱和电压,结-壳热阻和结-壳瞬态热阻抗,高温阻断
百检网样品检测流程:
1、致电131-4818-0553咨询百检客服,确认样品及需求。
2、客服安排工程师对接,根据需求制定检测方案。
3、确认方案、报价后签订合同,安排寄样检测。
4、实验室根据需求,对样品开展检测工作。
5、检测结束,出具样品检测报告。
6、如需加急请提前与工程师或客服进行沟通。
绝缘栅双*晶体管检测标准:
1、GB/T 29332-2012IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双*晶体管(IGBT) 6.2.1
2、GB/T29332-2012 半导体器件 分立器件 第 9 部分:绝缘栅双*晶体管(IGBT)
3、(IGBT) GB/T29332-2012 半导体器件 分立器件 第 9 部分:绝缘栅双*晶体管 6.3.3
4、GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第 9 部分:绝缘栅双*晶体管(IGBT) 6.3.12
5、GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双*晶体管(IGBT) 6.3.12
6、 IEC 60747-9-201 半导体器件 第9部分:分立器件 绝缘栅双*晶体管(igbt) IEC 60747-9-2019
7、 GB/T 29332-201 半导体器件 分立器件 第 9 部分:绝缘栅双*晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012
8、GB/T29332-2012IEC60747-9Ed.2.0b:2007 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双*晶体管(IGBT)
9、IEC 60747-9 Edition 3.0 :2019 半导体器件 第9部分:分立器件 绝缘栅双*晶体管(IGBTs) 7.2.5.3
10、 GB/T 29332-2012 IEC 60747-9 Ed. 2.0 :200 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双*晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012 IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007
11、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :200 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双*晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007
12、 GB/T 29332-2012/IEC 60747-9:200 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘体双*晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9:2007
13、 GB/T 29332-201 半导体器件 分立器件 第 9 部分:绝缘栅双*晶体管 (IGBT) GB/T29332-2012
14、GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双*晶体管 GB/T 29332-2012
15、 GB/T 29332-2012IEC 60747-9 Ed. 2.0 :200 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双*晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007
16、(IGBT) GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第 9 部分:绝缘栅双*晶体管 6.2.6.2
17、IEC60747-9(Edition2.0):2007 半导体器件-分立器件-第9部分:绝缘栅双*晶体管(IGBTs)
18、 IEC 60747-9 Edition 3.0 :201 半导体器件 第9部分:分立器件 绝缘栅双*晶体管(IGBTs) IEC 60747-9 Edition 3.0 :2019
19、IEC 60747-9-2019 半导体器件 第9部分:分立器件 绝缘栅双*晶体管(igbt) 6.3.13
检测报告用途
1、公司内部产品研发使用。
2、改善产品质量。
3、工业问题诊断。
4、销售使用(商超、电商、投标等)。
5、高校科研论文数据使用。
关于产品检测项目、标准、报告办理流程就介绍到这里。做检测,上百检,百检网期待与您的合作。