集成电路IC(卡)读写机检测项目标准清单列举

2023-11-08 94浏览
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检测周期:常规3-15个工作日,可加急(特殊样品除外)

报告样式:电子版、纸质,中、英文均可。

报告资质:CMA、CNAS

集成电路IC(卡)读写机检测项目:

,低温试验,包装跌落,恒定湿热,电源适应能力,电磁兼容,碰撞,高温试验,冲击试验,工作条件恒定湿热试验,工作温度上限试验,工作温度下限试验,振动试验,贮存条件恒定湿热试验,贮存温度上限试验,贮存温度下限试验,运输包装件跌落试验,电磁兼容性(EMI),电磁兼容性(EMS),功能,可靠性及寿命,外观与结构要求,环境要求,电磁兼容性,外观和结构,数据安全,安全,环境适应性,无线电骚扰,抗扰度,可靠性,卡座,字符及输出,存储器,机械环境适应性(振动、冲击、碰撞、跌落),气候环境适应性,电源,相互确认时间,脱机工作能力,通信,键盘,外观结构要求,外观也结构要求,互相确认时间,外观,字符及其输出,脱机工作功能,通信功能,在线IC卡终端设备,环境试验,离线IC卡终端设备,机械环境条件,气候环境条件,电磁兼容要求,碰撞试验,环境,外观与结构,功能试验,外观检查,安全检查

百检检测流程:

1、百检客服确认检测需求(样品、项目、报告用途等)

2、安排对应工程师对接服务。

3、确认报价,签订合同,安排寄样检测。

4、实验室接收样品,根据需求开始检测。

5、完成检测,出具检测报告。

6、售后服务。

集成电路IC(卡)读写机检测标准:

1、GB 4943.1-2011 《信息技术设备 安全 第1部分:通用要求》

2、CJ/T166-2014 建设事业集成电路(IC)卡应用技术条件 6.2.1.2

3、GB/T 18239-2000 集成电路(IC卡)读写机通用规范 GB/T 18239-2000

4、GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分:通用要求

5、GB/T18239-20004.6.1,5.6.1 集成电路(IC)卡读写机通用规范

6、GB 4943.1-2011 《信息技术设备 安全 第1部分:通用要求》 GB 4943.1-2011

7、GB/T18239-20004.6.2,5.6.2 集成电路(IC)卡读写机通用规范

8、GB/T 18239-2000 集成电路(IC)卡读写机通用规范

9、CJ/T 166-2014 建设事业集成电路(IC)卡应用技术 CJ/T 166-2014

10、CJ/T166-20146.2.1.2 建设事业集成电路(IC)卡应用技术条件

11、CJ/T 166-2014 建设事业集成电路(IC)卡应用技术条件 7

12、GB/T 18239 2000 集成电路(IC)卡读写机通用规范 4.1

13、GB/T18239-20004.3,5.7 集成电路(IC)卡读写机通用规范

14、GB/T18239-2000 集成电路(IC)卡读写机通用规范 4.2,5.2

检测报告用途:

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

产品检测项目及检测标准相关信息就介绍到这里。百检网第三方检测机构期待与您的合作,详情请联系百检客服。