半导体集成电路模拟开关检测项目标准清单列举

半导体集成电路模拟开关检测在哪做？百检网第三方检测机构可提供半导体集成电路模拟开关检测服务，工程师一对一服务，根据半导体集成电路模拟开关检测需求制定方案，安排实验室寄样检测，常规检测项目在3-15个工作日内完成并出具半导体集成电路模拟开关检测报告，欢迎咨询。

检测周期：常规3-15个工作日，可加急（特殊样品除外）

报告样式：电子版、纸质，中、英文均可。

报告资质：CMA、CNAS

半导体集成电路模拟开关检测项目：

模拟电压工作范围,导通态漏电流IDS（on）,导通电阻Ron,导通电阻路差△Ron,截止态漏电流ID（off）,电源电流,导通电阻,导通电阻路差,截止态源*漏电流,截止态漏*漏电流,导通态漏电流,开启时间/关断时间,截止态漏*漏电流/截止态源*漏电流,导通态漏电流IDS(on),导通电阻路差ΔRon,截止态源级漏电流IS（off）,截止态漏*漏电流ID（off）,输入低电平电流IIL,输入高电平电流IIH,静态工作电源电流IDD,功能测试,导通态漏电流IDS(on),导通电阻Ron,导通电阻路差△Ron,截止态源*漏电流IS(off),截止态漏*漏电流ID(off),输入低电平电流IIL,输入高电平电流IIH,静态工作电源电流,双向开关截止电流,关断时间,导通电阻温度漂移率,导通电阻路差率,开启时间,通道转换时间,导通态漏电流 IDS(on),导通电阻 RON,导通电阻路差 △RON,截止态源*漏电流IS(off),截止态漏*漏电流ID(off),输出低电平电压 VOL,输出高电平电压 VOH,静态条件下的电源电流 IDD,导通电阻RON,截止态源*漏电流IS（OFF）,截止态漏*漏电流ID（OFF）,逻辑端输入电流,导通态漏电流 IDS(on),导通电阻 RON,截止态源*漏电流 IS(off),截止态漏*漏电流 ID(off),静态条件下的电源电流,导通态漏电流IDS(on),导通电阻Ron,导通电阻路差△Ron,截止态源*漏电流IS(off),截止态漏*漏电流ID(off),截止态源*漏电,导通态漏*漏电流,输出高电平电压VOH,输出低电平电压VOL,电源电流IDD,开启时间ton,关断时间toff,输出高电平电压,输出低电平电压

百检检测流程：

1、百检客服确认检测需求（样品、项目、报告用途等）

2、安排对应工程师对接服务。

3、确认报价，签订合同，安排寄样检测。

4、实验室接收样品，根据需求开始检测。

5、完成检测，出具检测报告。

6、售后服务。

半导体集成电路模拟开关检测标准：

1、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

2、GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 5.2

3、GB/T 17574-1998 半导体集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

4、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第III篇第6节 5.1.1

5、GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 条款2.6

6、GB/T14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法 5.1

7、GB/T14028-2018/ 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 5.4

8、GB/T 14028-2018 《半导体集成电路 模拟开关测试方法》 GB/T 14028-2018

9、GB/T 17574-1998 半导体集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节 2

10、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

11、SJ/T 10741-2000（CMOS） 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 条款5.15

12、GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992

13、SJ/T10741-2000 5.9 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

14、SJ/T10741-2000 5.10 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

15、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

16、GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇 第2节 1

检测报告用途：

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

产品检测项目及检测标准相关信息就介绍到这里。百检网第三方检测机构期待与您的合作，详情请联系百检客服。