集成电路-非易失性存储器检测项目标准清单列举

集成电路-非易失性存储器检测在哪做？百检网第三方检测机构可提供集成电路-非易失性存储器检测服务，工程师一对一服务，根据集成电路-非易失性存储器检测需求制定方案，安排实验室寄样检测，常规检测项目在3-15个工作日内完成并出具集成电路-非易失性存储器检测报告，欢迎咨询。

检测周期：常规3-15个工作日，可加急（特殊样品除外）

报告样式：电子版、纸质，中、英文均可。

报告资质：CMA、CNAS

集成电路-非易失性存储器检测项目：

低温工作寿命检测,低温读写,常温读写＋保存数据退化及只读检测,接口协议检测,擦写读取检测,无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST),早夭期寿命检测,温度循环检测（TC）,湿敏等级检测,电气检测,芯片的 DPI 传导抗扰度,芯片的 EFT 传导抗扰度,芯片的 PESD 传导抗扰度,芯片辐射电场抗扰度,闩锁检测（Latch-up）,静态高温长时间保存下数据退化检测,静电放电-人体模型检测（ESD-HBM）,静电放电-带电器件模型检测（ESD-CDM）,预处理检测,高加速温湿度寿命检测（HAST）,高温存储检测（HTSL）,高温工作寿命检测,高温读写＋保存数据退化检测

百检检测流程：

1、百检客服确认检测需求（样品、项目、报告用途等）

2、安排对应工程师对接服务。

3、确认报价，签订合同，安排寄样检测。

4、实验室接收样品，根据需求开始检测。

5、完成检测，出具检测报告。

6、售后服务。

集成电路-非易失性存储器检测标准：

1、T/CIE 070—2020 工业级高可靠集成电路评价 第 4 部分：非易失性存储器 T/CIE 070—2020

2、T/CIE070—2020 工业级高可靠集成电路评价 第 4 部分：非易失性存储器 5.6.3

3、T/CIE 070—2020 工业级高可靠集成电路评价 第 4 部分：非易失性存储器 5.7.3

检测报告用途：

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

产品检测项目及检测标准相关信息就介绍到这里。百检网第三方检测机构期待与您的合作，详情请联系百检客服。